idw – Informationsdienst Wissenschaft

Nachrichten, Termine, Experten

Grafik: idw-Logo
Science Video Project
idw-Abo

idw-News App:

AppStore

Google Play Store



Instanz:
Teilen: 
28.09.2010 14:55

Auf dem Weg zu noch größeren Wafern

Dipl.-Journ. Erika Schow Presse- und Öffentlichkeitsarbeit
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)

    Europäisches Verbundprojekt forscht an der nächsten Generation von Halbleiterscheiben mit 450 mm Durchmesser

    Bauelemente der Mikro- und Nanoelektronik werden auf Halbleiterscheiben aus Silicium, sogenannten Wafern, produziert. Deren Durchmesser hat in den letzten Jahrzehnten von ein paar Millimetern auf inzwischen 300 mm zugenommen. Nachdem sich die Fertigung hier etabliert hat, wird nun weltweit der nächste Schritt zur Produktivitätssteigerung in Angriff genommen. Die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) ist einer von zehn deutschen Partnern in einem europäischen Verbundprojekt, das die Fertigung auf Wafern mit einem Durchmesser von 450 mm erforscht. Mit ihnen wird die für Bauelemente zur Verfügung stehende Fläche mehr als verdoppelt, was zu einer signifikanten Erhöhung der Ausbeute und damit verbunden zu einer Senkung der Fertigungskosten führen wird.

    Um dieses Ziel zu erreichen, ist im Vorfeld ein erheblicher Forschungsaufwand zu leisten – nicht nur im Bereich dieser großen Halbleiterscheiben selbst, sondern ebenso bei den Handhabungsrobotern und den Fertigungsgeräten. Für die in Deutschland und Europa beheimateten Geräte-, Automatisierungs- und Materialhersteller ist jetzt der richtige Zeitpunkt, ihre weltweit anerkannte Expertise auf dieses Zukunftsfeld auszudehnen.

    Deshalb haben sich insgesamt 27 europäische Unternehmen und institutionelle Forschungseinrichtungen aus den Branchen Halbleiterindustrie, Geräte- und Materialhersteller zum Verbundprojekt EEMI450 (European Equipment & Materials Initiative for 450 mm) zusammengeschlossen, mit dem Ziel, 450-mm-Technologie und -Know-how für den Standort Europa zu sichern. Die Koordination des gesamten europäischen Projektverbunds wird von ASM International wahrgenommen.

    Der deutsche Teil des Projektkonsortiums bestehend aus den 10 Verbundpartnern AIXTRON AG, Fraunhofer Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF, Fraunhofer Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB, Mattson Thermal Products GmbH, NanoPhotonics GmbH, Physikalisch Technische Bundesanstalt, PVA TePla AG, SemiQuarz GmbH, Siltronic AG und Vistec Electron Beam GmbH wird von Siltronic AG koordiniert. Seit dem 1. Juni 2010 haben die Projektpartner ihre Arbeit für eine Laufzeit von 21 Monaten aufgenommen.

    Das Projekt wird einerseits im Rahmen von ENIAC (European Nanoelectronics Initiative Advisory Council) seitens der EU und andererseits für die deutschen Teilnehmer vom BMBF auf Basis der Hightech-Strategie „IKT2020“ (Informations- und Kommunikationstechnologien 2020) gefördert. Mittelfristiges Ziel der BMBF-Fördermaßnahme ist es, die Wettbewerbsfähigkeit des Forschungs-, Produktions- und Arbeitsplatzstandortes Deutschland im Bereich IKT zu festigen und weiter auszubauen. Dies gilt gleichermaßen für das gesamte europäische Verbundvorhaben in Bezug auf den europäischen Halbleiterstandort.
    ptb/es

    Ansprechpartner
    Dr. Burkhard Beckhoff, PTB-Arbeitsgruppe 7.12 Röntgenspektrometrie,
    Tel.: (030) 6392 3231, E-Mail: burkhard.beckhoff@ptb.de


    Bilder

    Merkmale dieser Pressemitteilung:
    Informationstechnik, Physik / Astronomie
    überregional
    Forschungsprojekte, Kooperationen
    Deutsch


     

    Hilfe

    Die Suche / Erweiterte Suche im idw-Archiv
    Verknüpfungen

    Sie können Suchbegriffe mit und, oder und / oder nicht verknüpfen, z. B. Philo nicht logie.

    Klammern

    Verknüpfungen können Sie mit Klammern voneinander trennen, z. B. (Philo nicht logie) oder (Psycho und logie).

    Wortgruppen

    Zusammenhängende Worte werden als Wortgruppe gesucht, wenn Sie sie in Anführungsstriche setzen, z. B. „Bundesrepublik Deutschland“.

    Auswahlkriterien

    Die Erweiterte Suche können Sie auch nutzen, ohne Suchbegriffe einzugeben. Sie orientiert sich dann an den Kriterien, die Sie ausgewählt haben (z. B. nach dem Land oder dem Sachgebiet).

    Haben Sie in einer Kategorie kein Kriterium ausgewählt, wird die gesamte Kategorie durchsucht (z.B. alle Sachgebiete oder alle Länder).