Pressemitteilung

Die Nanotechnologien stehen an der Schwelle zur industriellen Nutzung. Normen helfen, Innovationen in marktfähige Produkte umzusetzen. Die BAM unterstützt intensiv die internationale Normung für die Nanotechnologien (beispielsweise im deutschen Spiegelausschuss DIN NA 062-08-17 Nanotechnologien). Für die in den Nanotechnologien eingesetzten hochempfindlichen Messverfahren sind neue Anforderungen für deren Kalibrierung entstanden.

Unter dem oben genannten Link sind zurzeit circa 65 nanoskalige Referenz¬materialien unterschiedlicher Kategorien (Stufenhöhen, Nanoobjekte, Porosität, ...) gelistet. Es sind zertifizierte Referenzmaterialien (CRM's) der höchsten Qualitätsstufe einbezogen, die in der Regel die nationalen und europäischen metrologischen Staatsinstitute (PTB/BAM, IRMM, NIST, AIST, ...) anbieten. Auch sind von Firmen oder Forschungsinstituten angebotene Referenzmaterialien erfasst, zu denen nicht alle aus metrologischer Sicht notwendigen Daten vorliegen. Die Zusammenstellung wird regelmäßig aktualisiert.

Zu jedem Referenzmaterial lässt sich ein Datenblatt im pdf-Format herunterladen. Darin enthalten sind quantitative Angaben zu Mittelwert und Unsicherheit, Informa¬tionen zum Anwendungsbereich und Links zum jeweiligen Hersteller/Anbieter.

Anregungen, Kritik oder Hinweise zur Referenzmaterialienliste sind willkommen.

Kontakt:
Dr. Georg Reiners
Leiter der Fachgruppe VI.4 Oberflächentechnologien
Abteilung VI Materialschutz und Oberflächentechnik
Telefon: +49 30 8104-1820
E-Mail: georg.reiners@bam.de