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Nachrichten, Termine, Experten
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Eine besondere Ehre und Anerkennung wird dem Standort Zweibrücken der Fachhochschule Kaiserslautern vom 2. bis 4. März 2009 zuteil, wenn auf dem Campus mehr als 100 renommierte Wissenschaftler und Ingenieure aus der ganzen Welt beim "Workshop Ellipsometry 2009" über Einsatz und Anwendungen dieser optischen Messtechnik diskutieren und Erfahrungen austauschen.
Die Ellipsometrie ist eine hochempfindliche optische Messtechnik, mit der hauchdünne Schichten, feinste Oberflächenstrukturen und neue Materialien charakterisiert werden können. Dabei wird polarisiertes Licht auf die zu untersuchende Oberfläche eingestrahlt und von dieser wieder reflektiert. Bei der Reflektion ändert sich die Polarisation, woraus wiederum auf die Oberflächen- oder Schichtstruktur sowie auf gewisse Materialeigenschaften geschlossen werden kann. So ist es z.B. möglich, Schichten mit einer "Dicke" von einem Tausendstel eines Tausendstel Millimeters sicher nachzuweisen. Standardmäßig wird dieses Verfahren heute bei allen Herstellern von Hochtechnologieprodukten wie Computerchips, Festplattenspeichern oder Flachbildschirmen eingesetzt. Zunehmend findet sie auch bei medizinischen Diagnoseverfahren und in der Biotechnologie Einzug. Während sich die Vermessung der Proben bei diesem Verfahren eher relativ einfach darstellt, liegt die Schwierigkeit des Verfahrens vielfach in der korrekten Auswertung der Messergebnisse.
Initiatoren des Workshops Ellipsometry waren im Jahr 2000 zwei Wissenschaftler aus Stuttgart und Berlin. Seither fand die Veranstaltung mit stetig steigender Teilnehmerzahl je zweimal in diesen deutschen Städten statt und stieß schnell auch außerhalb Deutschlands auf große Aufmerksamkeit. Daher wurde die Veranstaltung vor nunmehr drei Jahren für Beiträge aus dem europäischen Ausland geöffnet und fand von dieser Seite auch regen Zuspruch. Für die Veranstaltung in 2009 erwies sich nun selbst der europäische Rahmen als zu klein und der Ellipsometry-Workshop avanciert damit zu einem wirklichen "global event". Das weltweite Interesse belegen schon allein die Herkunftsländer der Tagungsbeiträge, die für Zweibrücken eingereicht wurden: Von den insgesamt 64 Beiträgen kommen 30 aus Deutschland, 7 aus den USA und 6 aus Schweden; weitere Arbeiten kommen aus Tschechien (4), Italien (3) sowie Spanien, Frankreich, Rumänien und Mexiko (jeweils 2) und Belgien, Niederlande, Schweiz, Ukraine, Japan und Jordanien (je 1).
Dass nach Metropolen wie Berlin und Stuttgart nun für 2009 Zweibrücken den Zuschlag für die Ausrichtung des Workshops Ellipsometry bekam, ist für Prof. Dr. Peter Pokrowsky als Cheforganisator der Veranstaltung vor allem ein nachdrücklicher Beleg für die erstklassige Ausstattung des FH-Campus. "Die Delegation, die vor etwa zwei Jahren den Zweibrücker Campus, die Labore und Veranstaltungsräume begutachtete, war geradezu davon begeistert, was an einer kleinen Fachhochschule alles möglich ist", so Pokrowsky. Aber nicht nur der Campus selbst war dafür ausschlaggebend, dass sich Zweibrücken als Tagungsausrichter gegen äußert attraktive Mitwerber durchsetzen konnte. "Insbesondere wurden bei der Auswahl auch die Verkehrsanbindungen berücksichtigt und dabei die Flug- und Schnellbahnverbindungen Zweibrückens positiv registriert", erinnert sich Pokrowsky. Alles in allem also ein schöner Erfolg für Zweibrücken sowohl als Wissenschaftsstandort wie auch als Stadt und Gastgeber für ein internationales Klientel.
Ganz im Sinne einer University of Applied Sciences wie der Fachhochschule stellt das Programm des Workshops Ellipsometry 2009 ganz deutlich den Praxisbezug dieser optischen Messtechnik in den Vordergrund und thematisiert die verschiedensten Facetten und auch Problematiken in der Anwendung dieser Technologie. Zusätzlich und sozusagen als Abrundung des wissenschaftlichen Diskurses wird am Ende der Tagung ein/e junge/r Nachwuchswissenschaftler/in mit der Paul Drude Medaille ausgezeichnet, einem besonderen Preis für den bedeutendsten Beitrag zu dieser Messtechnik. Ein weiterer Preis wird für die beste Posterdarstellung zur Thematik vergeben.
Ansprechpartner:
Prof. Dr. Peter Pokrowsky +++ Tel: 06332-914-410 +++ Mail: peter.pokrowsky@fh-kl.de
V.i.S.d.P. Prof. Dr. Uli Schell, Präsident der FH Kaiserslautern +++ Tel: 0631-3724-100 +++ Mail: praesident@fh-kl.de
Red.: Pressestelle FH-Standort Zweibrücken: Wolfgang Knerr +++ Tel: 06332-914-136 +++ Mail: wolfgang.knerr@fh-kl.de
http://www.wse-2009.de/ 5th Workshop Ellipsometry
http://www.bam.de/de/microsites/ake/index.htm Arbeitskreis Ellipsometrie (AKE) -Paul Drude e. V.
Criteria of this press release:
Information technology, Physics / astronomy
transregional, national
Research results, Scientific conferences
German
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